光学投影式三维形貌测量系统（产品）
- 成果编号
- 23972
- 完成单位
- 北京理工大学
- 完成时间
- 2019年
- 成熟程度
- 小批量生产阶段
- 价格
- 面议
- 单位类别
- 985系统院所、211系统院所
| 科技计划 | 成果形式 |
|---|---|
| 新技术、新产品 | |
| 合作方式 | 参加活动 |
技术转让、技术开发、技术咨询、技术服务 |
|
| 专利情况 | |
未申请专利 |
| 综合介绍 |
|---|
光学投影式三维形貌测量方法是一种非接触、高精度、快速获取被测物三维形貌的方法。基于此方法开发研制而成的测量系统可在 1 分钟内获取测量区域 10cm2-400cm2 内被测物三维形貌，测量分辨率可达到 200μm。该系统硬件部分包括小型化条纹投射装置、高分辨率数字 CCD 相机和控制电路，自行编写的软件拥有仪器控制、图像采集、分析和可视化等功能并嵌套相位解包裹专用算法。便携式设计使该套系统可方便应用于车间、厂矿等各种测量环境。 |
| 创新要点 |
该系统采用基于时域的相位解包裹算法作为数据处理的核心算法，可以大大降低噪声对结果的影响，提高测量的精度。 |
| 技术指标 |
该套系统造价比国外同类试验设备造价低 5-10 倍左右，在军用和民用领域均具有较大的潜在经济效益和应用空间。 |
| 其他说明 |
| 姓名 | 对接成功后可查看 | 所在部门 | 对接成功后可查看 |
|---|---|---|---|
| 职务 | 对接成功后可查看 | 职称 | 对接成功后可查看 |
| 手机 | 对接成功后可查看 | 对接成功后可查看 | |
| 电话 | 对接成功后可查看 | 传真 | 对接成功后可查看 |
| 邮编 | 对接成功后可查看 | 通讯地址 | 对接成功后可查看 |
| 姓名 | 对接成功后可查看 | 所在部门 | 对接成功后可查看 |
|---|---|---|---|
| 职务 | 对接成功后可查看 | 职称 | 对接成功后可查看 |
| 手机 | 对接成功后可查看 | 对接成功后可查看 | |
| 电话 | 对接成功后可查看 | 传真 | 对接成功后可查看 |
| 邮编 | 对接成功后可查看 | 通讯地址 | 对接成功后可查看 |
